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Semiconductor Device And Failure Analysis Using Photon Emis
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CaracterĂsticas del producto
CaracterĂsticas principales
TĂtulo del libro | Semiconductor Device and Failure Analysis Using Photon Emission Microscopy |
|---|---|
Autor | Wai Kin Chim |
Idioma | Inglés |
Editorial del libro | Wiley; EdiciĂłn: 1 (13 de diciembre de 2000) |
Otras caracterĂsticas
Cantidad de páginas | 288 |
|---|---|
ISBN | 047149240X,9780471492405 |
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